Nanotrac Wave II

Akkurates Messgerät für Partikelgrößen und Zeta-Potential, ideal um Materialien mit einer großen Bandbreite von Konzentrationen zu bestimmen


Nanotrac Wave II Analyse System für Partikelgröße und Zeta-Potential




Als Erweiterung zur traditionellen DLS arbeitet der Nanotrac Wave II mit Reference Beating, welches das Signal zurück zum Photodetektor verstärkt, was zu einer unvergleichlichen Genauigkeit bei der Messung von Partikelgrößen, Zeta-Potential, Molekulargewicht und Volumenkonzentration von Kolloidsystemen führt.

Der Nanotrac Wave II bietet Anwendern eine überlegene Partikelanalyse durch Nutzung eines verstärkten optischen Signals, innovative Sondentechnologie und fortschrittliche Algorithmen. Egal ob Ihr Material im Konzentrationsbereich ppm vorliegt oder ein fast fertiges Produkt ist, liefert der Wave II schnelle, sensitive und präzise Messungen der Materialien von Sub-Nanometer bis zu mehreren Mikrometern.

Der Nanotrac Wave II ist ein System für direkte automatische Messungen der elektrophoretischen Mobilität und der Brownschen Bewegung, sowie des daraus resultierenden Zeta-Potentials und der Partikelgröße.

Microtrac ist ein Pionier auf dem Gebiet der Partikelanalyse und entwickelt DLS-Systeme seit über 30 Jahren. Der Nanotrac Wave II ist die aktuelle Generation von Messinstrumenten für Partikelgröße und Zeta-Potential im Sub-Mikrometer-Bereich. Das innovative Design des Wave II bietet schnellere Messungen mittels verlässlicher Technik, Messungen der Partikelgröße auf unter 0,8 nm, höhere Präzision und Genauigkeit – alles kombiniert in einem kompakten DLS-System mit feststehenden optischen Komponenten. Die umfangreiche und lizenzfreie Software berechnet die Analysedaten in Übereinstimmung mit ISO 22412 und CFR21 Part 11.

Das Messprinzip der Nanotrac-Serie basiert auf dynamischer Lichtstreuung (DLS) in einer 180°-heterodynen Rückstreu-Umgebung. Bei diesem Aufbau wird ein Teil des Laserstrahls dem Streulicht hinzugefügt. Dies führt zu einer optischen Verstärkung des gestreuten Lichts bei einem Partikelgrößenbereich von 0,8 bis 6.500 Nanometern.

Reference Beating verstärkt das optische Signal um das 100 bis 1.000.000 fache im Vergleich mit traditioneller DLS. Das verstärkte optische Signal erlaubt es Nutzern, Ein- und Mehrfachverteilungen über die größte Konzentrationsverteilung auf dem Markt genau zu messen.


Nanotrac Wave II Schema


Elektrophorese:

Anordnung im Laser-Streulicht (180°) für konzentrierte und verdünnte Partikel-Dispergierungen. Software zur Analyse der elektrophoretischen Mobilität, des Zeta-Potentials (gemäß Smoluchowski), sowie der Partikelgrößenverteilung durch direkte Analyse der Brownschen Bewegung.


Zeta-Potentialbereich:

-200mV bis +200mV, Wiederholbarkeit +/- 1 mV im Zeta-Potential (bezogen auf PS Latex-Standard-Partikel von 150 bis 500 nm)


Eigenschaften des Nanotrac Wave II:

  • Verstärktes optisches Signal für überragende Genauigkeit durch Reference Beating – nur bei Microtrac
  • Einzigartiges Sondendesign, feste optische Einheiten & 180°-Rückstreuung erlauben schnelle & präzise Messungen – von ppm bis zu beinahe festen Stoffen (40% w/v)*
  • Vorkenntnisse der Partikelgrößenverteilung sind nicht erforderlich
  • Zeta-Potential-Messung nah am isoelektrischen Punkt (-200 bis +200 mV) durch Beseitigung von Fehlern, die durch elektro-osmotische Strömung entstehen
  • Frei-wählbare Analyse-Modi:
    • Analyse der Verteilung – Für breite Partikelgrößenverteilungen von nm bis μm
    • Simulation von Altgeräten – Übernahme von historischen Spezifikationen für Datenkonsistenz mit Altgeräten
    • Analyse der Peaks – schnelle Resultate mit Größen und Volumenkonzentration sowie akkurate Bestimmung multi-modaler Verteilungen – weitere Infos hierzu in unserer Präsentation
  • Herausnehmbare Messzelle – erhältlich in Teflon oder Edelstahl
  • 150 μl Probenvolumen ausreichend – ideal für teure Materialien
  • Peltier-Temperaturkontrolle
  • Durchfluss-Messzellen und Möglichkeit, einen Titrator anzuschließen.


Probenzellen in Verwendung mit dem Nanotrac Wave II von Microtrac


Anwendungsbereiche des Nanotrac Wave II:


FLEX-Software:

Ob Sie schnell überprüfen wollen ob Ihr Material die Spezifikationen trifft, oder ob Sie tief in die Materie eintauchen wollen – die FLEX-Software versorgt Sie mit den nötigen Werkzeugen.

  • Kein “A priori”-Wissen der Partikelgrößenverteilung vonnöten – einfach Probe laden und starten
  • Einfache SOP-Erstellung und Admin-Funktion, ideal für mehrere Nutzer
  • Anzeige der Sauberkeit von Küvetten bzw. Probenzellen, inklusive Alarm
  • In mehreren Sprachen verfügbar
  • Umfangreiche Datenbank
  • Konform zu FDA 21 CFR Part 11
  • Statistische Analysen
  • Auswahl dynamischer Viskosität stellt Genauigkeit von Messergebnissen sicher (gemäß Stokes-Einstein)
  • Kein Nullabgleich benötigt – die Blankmessung ist in die Software integriert
  • Benachrichtigung über Bestehen bzw. Nicht-Bestehen von Spezifikationen
  • Fortlaufende oder nachträglich erstellte Trendplots
  • Benutzerspezifische Berichte und Berechnungen
  • Verschiedene Optionen zum Datenexport


Weiteres Material:

Vorteile der Frequenzleistungsspektrum-Methode


Reference Beating: Eine akkurate Methode zur Größenanalyse von Nanopartikeln – Dynamische Lichtstreuung nach Microtrac-Art


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