各種原理の長所と短所についての幅広い知見によりお客様のニーズに最適な装置をご提案致します。
| 動的画像解析 (DIA) | 静的画像解析 | ふるい分け試験 (Retsch) |
レーザー回折・散乱 | 動的光散乱(DLS) | ||
| 測定範囲の広さ |  |
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| 繰り返し精度及び再現性 | |
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| シャープな分布の解像度 | |
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| 粒子形状の分析 | |
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| 直接的な測定 | |
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| オーバーサイズ粒子の検出 | |
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| 機器の堅牢性と操作性 | |
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| 個々の粒子分析 | |
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| 測定スピード及び測定時間 | |
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| ナノ粒子の分析 | |
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| ゼータ電位の分析 | |
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| 汎用性 | |
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| 測定範囲 | 0.8 µm - 135 mm | 0.5 µm – 1.5 mm | 10 µm - 125 mm | 20 nm – 2 mm | 0.8 nm - 6500 nm |
