Для физической характеристики частиц компания Microtrac предлагает целый ряд оптических анализаторов частиц. Microtrac является единственным в мире поставщиком оборудования для динамического анализа изображений, статического анализа изображений, лазерной дифракции и ситового анализа с широким пониманием сильных и слабых сторон каждого метода.
| Динамический Анализ Изображения (ДАИ) | Оптический микроскоп |
Ситовой Анализ (Retsch) |
Лазерная дифракция | Динамическое светорассеяние (ДСР) | ||
| Широкий диапазон измерений |  |
 |
 |
|
|
|
| Воспроизводимость и повторяемость | |
|
|
|
|
|
| Высокое разрешение для узких диапазонов распределения |
|
|
|
|
|
|
| Анализ формы частиц | |
|
|
|
|
|
| Принцип прямого измерения | |
|
|
|
|
|
| Надежное определение наличия частиц нестандартного размера |
|
|
|
|
|
|
| Надежное и простое в использовании оборудование для проведения регулярного анализа |
|
|
|
|
|
|
| Анализ отдельных частиц | |
|
|
|
|
|
| Высокая скорость измерения | |
|
|
|
|
|
| Анализ наночастиц | |
|
|
|
|
|
| Анализ Дзета-потенциала и молекулярного веса | |
|
|
|
|
|
| Гибкость | |
|
|
|
|
|
| Диапазоны измерений | 0.8 µm - 135 mm | 0.5 µm – 1.5 mm | 10 µm - 125 mm | 10 nm – 5 mm | 0.8 nm - 6500 nm |
