动态光散射粒度仪

麦奇克自从1990年发布UPA以来,一直是最受欢迎的测量纳米粒子的动态光散射仪器制造商。

我们系统的独到之处在于我们专利的动态光散射技术,让我们可以精确地测量从亚纳米到数微米的粒度范围,适用于各种浓度,应用范围是市场上同类设备中范围最广的。

Microtrac-UPA 在UPA中首次发布的开创性增强功能(左图)至今仍在Nanotrac Wave II、Nano-flex和Nanotrac Wave II Q中使用。麦奇克的动态光散射系统可以测量0.3 纳米- 10 微米的粒子粒度范围。系统可以测量高达40%的浓度,并有多重样品导入设置,包括特氟龙样品室、外部探针和比色皿。

动态光散射 – 麦奇克的设计方式

可控参比方法又叫做”参拍”,是我们专利的动态光散射技术,解决了光子关联光谱法的限制。相较于传统的动态光散射技术,参拍将光探测器系统的光信号增强了100至1,000,000倍。信号的增强让测量粒度和Zeta电位的灵敏度和精确度大大提高,无论浓度的高低,均能获得极佳的测量结果。参拍同时也是准确分析多模式分布的最佳选择。观看视频介绍,了解我们经证实的方法技术。

麦奇克的动态光散射仪器包括:

Nanotrac Wave II – 可测量整装式样品池的样品的粒度、Zeta电位和分子量。

NANO-flex – 纳米粒度分析仪,配有独家探针技术。

Nanotrac Wave II Q – 纳米粒度分析仪,配有比色皿样品室。

查看我们的产品系列手册,了解哪一种动态光散射仪器最适合您。

您是否知道,在麦奇克动态光散射系统中可以同时测量粒度和浓度?

 观看视频说明,了解更多独特功能。

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