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Europe / EMEANANOTRAC WAVE II
数据准确的粒度和Zeta电位分析仪，非常适合各种浓度的材料样品测量
Nanotrac Wave II的特色为使用了参拍技术——传统态光散射技术的增强版， 将光探测器系统的光信号大大增强，对粒度、Zeta电位、分子量和胶体系统的浓度测量准确率而言，无其他仪器能出其右。
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Nanotrac Wave II 通过增强光信号，使用创新的探针技术以及高级算法，为用户呈现了优异的粒度分析表现。无论您的材料是ppm量级还是接近完成的产品， Wave II 都能够对材料进行快速、灵敏、精确的测量，测量范围从亚纳米到数微米。 |
相较于传统的态光散射技术，参拍技术将光信号增强了100至1,000,000倍。经增强的光信号让用户可以准确测量各种浓度下单个或多个模式的分布状态，可测量的浓度范围为市面上同类产品最广泛。这一技术被称为麦奇克方法。观看短片介绍，进一步了解我们的专利技术。
Nanotrac Wave II的应用范围：
Nanotrac Wave II 分析仪的参数信息：
- 通过增强光信号，准确性优异的参拍技术 – 麦奇克独家专利技术
- 独有的探针设计、固定的光学器件、180°反向散射光测量，可以在非常广的浓度范围内进行快速精确的测量– 从ppm量级到接近固体之液体所含40 %固体浓度
- 不需要事先对粒度分布很了解或有经验。
- 可以更接近等电点测量Zeta电位，消除电渗流造成的误差。Zeta电位的测量范围为-200 to +200mV
- 几种数据的表示方式可供用户选择
- 分布 – 标准容量粒度分布
- 旧型号 – 从旧型号过渡到新仪器时需确保数据一致性
- 模式 – 同时测量粒度和浓度 – 查看简报说明，了解该项功能。.
15nm和120nm双模态？对于Nanotrac Wave II完全没有问题。看看那些分明的峰线！
如果想了解您的纳米粒子是否适用于Nanotrac Wave II，请点击此处与麦奇克技术专家交谈。
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