Nanotrac Wave II Q 纳米粒度分析仪

为可以精确地测量各种浓度的胶体系统的纳米粒度分析仪。

Nanotrac Wave II Q结合麦奇克专利探针技术,适配一个比色皿专用室,容易进行快速测量,用完的比色皿即可丢弃。

Nanotrac Wave II Q使用了参拍技术——传统动态光散射技术的增强版,将增强光信号传回光电探测器,对纳米粒子悬浮液粒度和分子量产生精度极高的测量结果。

Nanotrac Wave II Q充分利用增强光信号、比色皿室固定探针技术以及高级算法,获得精准度无可比拟的表征测量结果。从ppm量级到接近完成的产品, Nanotrac Wave II Q可以灵敏快速、可重复地测出粒子从亚纳米到数微米的粒度。

即使有比色皿, 参拍技术也能比传统的动态光散射技术将光信号增强100至1,000,000倍。用户可以在很广的浓度范围内精确测量单一或多模态分布。请查看简短的简报说明,了解我们的专利技术,即麦奇克方法。

Nanotrac Wave II Q的应用范围:

Nanotrac Wave II Q分析仪的参数信息:

  • 不需要空白测量或事先了解粒度分布情况 – 只需简单装载比色皿就可以测量
  • 可以兼容4个比色皿容量:
  • 大容量 – 1000 μl
  • 玻璃 – 1000 μl
  • 半微量– 300 μl
  • 微量 – 50 μl
  • 自动测量粒度和浓度 – 点此查看简报了解。
  • 拥有市面上同类产品最广的浓度范围:ppm -40%
  • 比色皿错误检测警报
  • 帕尔贴温控装置
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    30nm的粒子和其他更大的粒子混在一起测量很棘手?使用Nanotrac Wave II Q便可同时轻松测量100 nm和30 nm的粒子。两峰分布十分分明。

    清晰的多模态测量功能

     

    如果想了解Nanotrac Wave II Q是否满足您对纳米粒子测量的需求,请点击此处与麦奇克技术专家交谈。

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