A részecskék fizikai jellemzésére a Microtrac számos optikai részecskeelemzőt kínál. A Microtrac az egyetlen globális beszállító a dinamikus képelemzés, lézer diffrakció és szivattyúelemzés berendezéseinek, amely széles körben megérti az egyes módszerek erősségeit és gyengeségeit.
Szitálás, lézerfényszórás, sztatikus vagy dinamikus képfeldolgozás? Mérési módszerek összehasonlítása
| Dinamikus képfeldolgozás | Szitaelemzés (Retsch) |
Lézerfénydiffrakció | Dinamikus fényszórás | |
|---|---|---|---|---|
| Wide dynamic measurement range | ++ | + | ++ | + |
| Reproducibility and repeatability | ++ | + | ++ | + |
| High resolution for narrow distributions | ++ | - | + | + |
| Particle shape analysis | + | - | - | - |
| Direct measurement technique | ++ | + | - | - |
| Reliable detection of oversized grains | ++ | ++ | - | + |
| Robust hardware, easy operation for routine analysis | ++ | + | ++ | + |
| Analysis of individual particles | + | - | - | - |
| High measurement speed, short measurement times | ++ | - | ++ | + |
| Analysis of nano particles | - | - | + | ++ |
| Analysis of Zeta potential and molecular weight | - | - | - | ++ |
| Versatility | + | + | ++ | - |
| Measuring range | 0.8 µm - 135 mm | 10 µm - 125 mm | 10 nm – 5 mm | 0.8 nm - 6500 nm |