A részecskék fizikai jellemzésére a Microtrac számos optikai részecskeelemzőt kínál. A Microtrac az egyetlen globális beszállító a dinamikus képelemzés, lézer diffrakció és szivattyúelemzés berendezéseinek, amely széles körben megérti az egyes módszerek erősségeit és gyengeségeit.
Szitálás, lézerfényszórás, sztatikus vagy dinamikus képfeldolgozás? Mérési módszerek összehasonlítása
| Dinamikus képfeldolgozás | Szitaelemzés (Retsch) |
Lézerfénydiffrakció | Dinamikus fényszórás | |
|---|---|---|---|---|
| nagy mérési értéktartomány | ++ | + | ++ | + |
| reprodukálhatóság és ismételhetőség | ++ | + | ++ | + |
| szűk eloszlások nagy felbontása | ++ | - | + | + |
| szemcsék alakjának vizsgálata | + | - | - | - |
| közvetlen mérési eljárás | ++ | + | - | - |
| túlméretes szemcsék megbízható detektálása |
++ | ++ | - | + |
| robusztus, egyszerűen működtethető hardver napi rutinmérésekhez |
++ | + | ++ | + |
| egyedi szemcsék vizsgálata | + | - | - | - |
| nagy mérési sebesség, rövid mérési idők | ++ | - | ++ | + |
| nanoszemcsék analízise | - | - | + | ++ |
| zéta-potenciál és molekulasúly mérése |
- | - | - | ++ |
| sokoldalúság | + | + | ++ | - |
| mérettartomány | 0.9 µm - 135 mm | 10 µm - 125 mm | 10 nm – 5 mm | 0.8 nm - 6500 nm |