CAMSIZER XLは、粒子径160~135,000 µmの大きな粒子のサイズと形状を測定する装置です。
- 測定可能な粒子の形態パラメータは40種以上、3D画像解析
- 乾燥した粒子を非接触式で測定、測定範囲は160~135,000μm
- 試料に合わせて測定条件を設定可能
- 高速・高解像度カメラで1秒間に100回撮像
- 光学系を筐体内に収めた設計でメンテナンス時間を短縮
特長
- 40種以上のパラメータ(サイズ15種、形状・形態13種、表面の粗さ3種、密度、透明度を含む)を測定して3D画像解析。品質・工程管理に欠かせない信頼性の高いデータを短時間で出力できます。
- 測定範囲が広く、多種多様な試料に対応しています。
- 高速・高解像度カメラで撮像。複数の鮮明な画像を用いた正確な解析結果が得られます。
- 厳しい環境にも耐えられる頑丈な設計は、あらゆる測定環境に対応します。
- 自動洗浄機能が搭載されているので、手作業を抑えて測定効率を向上できます。
粒子径分布・粒子形状分析装置 CAMSIZER XL 製品仕様
| 測定原理 | 動的画像解析(ISO 13322-2および9276-6準拠) |
|---|---|
| 測定範囲 | 粒子径160μm~135 mm |
| 測定パラメータ | ISO 13322-2準拠の3D測定(特許取得済み) |
| 撮像 | 毎秒100枚以上 |
| 粒子解像度(μm/画素) | 160μm/画素 |
| カメラの解像度 | 画素数:2560×2048、フレームレート:62 fps(フル解像度) |
| 光源 | ストロボ発光 |
| 電源 | 110-230 V / 50-60 Hz |
| 消費電力 | 約100 W |
| 試料の投入量 | 2 kg 未満(用途によって異なる) |
| 測定時間 | 1~5分(試料による) |
| 本体仕様 | アルミニウムとステンレス |
| 外形寸法 (W x H x D) | 400 x 1229 x 1693 mm |
| 重量 | 約70 kg |
粒子径分布・粒子形状分析装置 CAMSIZER XL 資料ダウンロード
Product data sheet Camsizer XL
Product Overview
10 Most Common Errors in Particle Analysis - And How to Avoid Them
Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
White Paper: Methodenvergleich Partikelanalyse
Warum liefern verschiedene Messverfahren unterschiedliche Ergebnisse? Partikelcharakterisierung ist in vielen Industrien und Anwendungsbereichen eine gängige Analysenmethode für Pulver, Granulate, Suspensionen und Emulsionen, wobei Größen vom Nanopartikel bis zum Kieselstein vorkommen. Dafür werden verschiedene Technologien und Messgeräte eingesetzt, die jeweils für bestimmte Größenbereiche oder bestimmte Materialeigenschaften optimal einsetzbar sind, wobei sich die Messbereiche teilweise überlappen. Daraus ergibt sich für viele Applikationen die Frage, welche Methode optimal für diese Anwendung geeignet ist, denn der Messbereich des Gerätes allein reicht zur Beantwortung dieser Frage nicht aus. Erschwerend kommt hinzu, dass verschiedene Messverfahren für die gleiche Probe oft unterschiedliche Ergebnisse liefern. Interpretation und Abgleich dieser Unterschiede stellt Anwender oft vor große Herausforderungen. In diesem Whitepaper sollen die gängigen Methoden der Partikelanalyse zunächst vorgestellt und dann miteinander verglichen werden.