Microtrac の NANOTRAC Wave II / Zeta は、動的光散乱法を用いた粒子径分布、およびゼータ電位を測定する分析装置です。
プローブ構造とヘテロダイン検出方式 を採用した独自の光学設計により、幅広い濃度範囲において安定した測定を実現しました。
また、周波数解析法 (FPS) により、粒子径分布をパワースペクトル解析から直接求めることも可能であり、サンプルの単峰性または多峰性の評価を可能としています。
これらの設計により、粒子サイズ分布に関する事前の知識がなくても、あらゆるアプリケーションにて信頼性の高い、高精度な測定が行えます。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II
- 180°後方散乱光検出機構
- サンプルの入れ替えや電極交換不要 – 調整不要
- 高速で電場を反転させ、電気浸透流を防止
- 周波数スペクトル解析法
- 高濃度ゼータ電位測定
- 分子量測定
- 有機溶剤対応
- 直接検出方式による低濃度から高濃度までの安定したデータ
- ヘテロダイン法 – 高SN比
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA コロイド系の正確な測定
NANOTRAC WAVEシリーズは、DLS測定に革新的なプローブ技術を採用しています。Laser Amplified Detection方式を採用することで、あらゆる種類の材料に対して、再現性のある安定した粒子径測定が可能です。
また、流体力学的半径またはDebyeプロットのいずれかによって分子量を計算することも可能です。
NANOTRAC WAVE IIでは、異なるサイズの再利用可能なサンプルセルを備えています。標準およびマイクロボリュームのフッ素樹脂製セルがあり、幅広い素材に対応しています。
NANOTRAC WAVE II Zetaは、ゼータ電位測定用の電極を備えた、再利用可能な特別なゼータセルを備えています。Wave IIのサンプルセルは、ゼータ・モデルにも対応しています。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA 粒子径分布・ゼータ電位測定装置
Microtrac DLS測定装置におけるゼータ電位の測定は、ナノ粒子の粒子径分布の測定に使用されているのと同じ周波数スペクトル解析法を利用しています。サンプル入れ替えや電極の交換は必要ありません。移動度を粒子径分布測定と同様に検出します。印加電圧をかけ高速に電場を反転させて電気浸透流を防ぎます。 2つのプローブを用い、1つは滑り面での粒子の電荷の極性を判定し、もう1つは電場中での粒子の移動度を測定します。
移動度=C×([PSD(on)-PSD(off)]/LI(off)の比)
ゼータ電位 ∝ 移動度
Intuitive Use With Just a Few Clicks DIMENSIONS LS for NANOTRAC Series
The DIMENSIONS LS software comprises five clearly structured Workspaces for easy method development and operation of the NANOTRAC instrument. Results display and evaluation of multiple analyses are possible in the corresponding workspaces, even during ongoing measurements.
- Simple method development
- Clearly structured result presentation
- Various evaluation options
- Intuitive workflow
- Extensive data export
- Multi-user capability
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA 代表的な用途
汎用性の高さは動的光散乱（DLS）の大きな強みです。そのため、医薬品、コロイド、マイクロエマルション、ポリマー、工業用鉱物、インクなど、研究と産業の両方でさまざまなアプリケーションに適した方法となっています。
医薬品
- 医薬品
- インク
- ライフサイエンス
- セラミックス
- 飲料 & 食品
エマルジョン
- コロイド粒子
- ポリマー
- マイクロエマルション
- 化粧品
- 化学物質
鋼
- 環境測定
- 粘着物
- 金属
- 工業用鉱物
その他
アプリケーションデータベースに各種資料を掲載しております。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II 製品仕様
| 測定原理 | 動的光散乱式 |
|---|---|
| 計算方法 | 周波数解析法（FFT） |
| 測定角度 | 180° |
| 測定範囲 | 0.8 - 6500 nm |
| サンプルセル | サンプルに応じて、豊富なセルのラインナップ |
| 粒子径分布測定専用 | yes |
| 粒子径分布測定専用 | yes |
| ゼータ電位測定 測定範囲 | -200 mV - +200 mV |
| ゼータ電位測定 (粒子径) | 10 nm - 20 µm |
| 電気泳動移動度 | 0 - 15 (µm/s) / (V/cm) |
| 導電率測定 | yes |
| 導電率範囲 | 0 - 10 mS / cm |
| 分子量測定 | yes |
| 分子量範囲 | 300 Da -> 20 x 10^6 Da |
| Temperature range | +4°C - +90°C |
| 温度精度 | ± 0.1°C |
| 温度機能 | yes |
| 温調範囲 | +4°C - +90°C |
| 滴定 | yes |
| 再現性 (粒子径) | = 1% |
| 再現性 (ゼータ電位) | + / - 3% |
| 試料量(粒子径) | 50 µl - 3 ml |
| 試料量(ゼータ電位) | 150 µl - 2 ml |
| 濃度測定 | yes |
| サンプル濃度 | 最大40w% (試料に依る) |
| 使用可能溶媒 | 水、極性・非極性有機溶剤、酸・塩基 |
| 光源 | 780 nm, 3 mW; 2 laser diodes with zeta |
| 湿度 | 90％以下（結露なきこと） |
| 外形寸法 (W x H x D) | 355×381×330mm |
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II 資料ダウンロード
Product data sheet Nanotrac Wave II
Product Overview
10 Most Common Errors in Particle Analysis - And How to Avoid Them
Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
21 CFR Part 11 Compliance Matrix for Microtrac Instruments
This document explains how Microtrac FLEX software has been designed to satisfy and comply with regulations in 21 CFR Part 11 for electronic records and electronic signatures.